هدف ازمطالعه: هدف این مطالعه، بررسی تأثیر لیزر کم‌توان 660 نانومتری دیود بر روی میزان تحلیل استخوان کرستال به‌صورت رادیوگرافیک در ایمپلنت‌های فرش‌ساکت می باشد. طراحی: این مطالعه یک مطالعه ی کارآزمایی بالینی دو سو کور با دو گروه موازی است. سی بیمار به طور تصادفی به دو گروه لیزر (مداخله) و گروه بدون لیزر (کنترل) تقسیم شدند. لیست تخصیص تصادفی با استفاده از نرم افزار تصادفی سازی ایجاد شد. هر بیمار فقط می توانست یک ناحیه برای معالجه ایمپلنت فراهم کند. نحوه و محل انجام مطالعه: این مطالعه در بخش جراحی فک و صورت دانشگاه آزاد اسلامی اصفهان انجام گرفت. بلافاصله پس از کشیدن دندان، ایمپلنت طبق پروتکل استاندارد در ناحیه ساکت دندانی قرارداده شد. درمان لیزر کم‌توان 660 نانومتری دیود بلافاصله بعد از جراحی شروع گردیده و هفته‌ای سه‌بار به مدت دو هفته تکرار گردید. اپراتور کورسازی نشد. همه مشارکت کنندگان دیگر این مطالعه کورسازی شدند. شرکت کنندگان/شرایط ورود و عدم ورود: معيارهاي ورود به تحقيق مراجعه کنندگان به بخش جراحي فك و صورت که مورد درمان کشیدن دندان و انجام درمان ایمپلنت قرارگرفته و فاقد التهاب وهرگونه بیماری وضایعه ی لثه باشند، بالغین سالمی که حداقل 18 سال دارند، میزان استخوان کافی برای دریافت ایمپلنت بدون نیاز به آگمنتاسیون استخوانی، حداقل 6 میلی متر عرض باکو لینگوالی ریج در محل قراردهی ایمپلنت. معيارهاي خروج از تحقيق بارداری یا شیردهی ، استفاده از داروهای ضد انعقاد ، درمان گلوکوکورتیکوئید سیستمیک ، عفونت حاد دهان ، بیماری پریودنتال درمان نشده یا کنترل نشده. گروه‌های مداخله: لیزر کم توان 660 نانومتری دیود به بافت های احاطه کننده ی ایمپلنت و در راستای محور طولی در گروه لیزر (گروه مداخله) تابانده شد. به ایمپلنت های موجود در گروه بدون لیزر (گروه کنترل), لیزر تابانده نشد. متغیرهای پیامد اصلی: در این مطالعه اندازه گیری کمیت استخوان کرستال در محل ایمپلنت با کمک رادیوگرافی داخل‌دهانی پری‌اپیکال و توسط نرم‌افزار کامپیوتری بلافاصله بعد از جراحی و چهار ماه بعد انجام گرفت.